26MG腐蝕測(cè)厚儀具有許多創(chuàng)新特性
瀏覽次數(shù):2568發(fā)布日期:2015-09-26
26MG腐蝕測(cè)厚儀它結(jié)合了強(qiáng)大的測(cè)量能力和數(shù)據(jù)采集和輸出能力,適用于測(cè)量有內(nèi)部腐蝕或銹蝕的管材、箱體和其它金屬構(gòu)件。具有許多創(chuàng)新特性,即便在外表有涂層或鍍層的情況下,亦可輕易完成金屬實(shí)際厚度的測(cè)厚。新增透過(guò)涂層技術(shù),利用一次背反射回波,測(cè)量和顯示金屬基底厚度和涂層厚度。新增氧化皮/沉積物測(cè)量功能(選擇項(xiàng)),測(cè)量和顯示鍋爐管道內(nèi)壁鋼基底厚度和氧化皮沉積物的厚度,從而有助于管道壽命的預(yù)測(cè)。26MG腐蝕測(cè)厚儀的高溫厚度測(cè)量可以利用新增溫度補(bǔ)償功能,隨溫度變化調(diào)節(jié)材料的聲速。新增平均值/zui小值模式,保存幾個(gè)相繼測(cè)量值的平均值或zui小值。
新型26MG腐蝕測(cè)厚儀為很多標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方式帶來(lái)創(chuàng)新。新的A掃描顯示,更好的對(duì)比度和可見(jiàn)性,使顯示更加清晰。存儲(chǔ)在B掃描中的每個(gè)厚度讀數(shù)可以在WIN26MG腐蝕測(cè)厚儀界面程序和測(cè)量?jī)x上瀏覽。用戶(hù)可選擇查看柵格結(jié)點(diǎn)標(biāo)記 (zui小/zui大,報(bào)警式或A掃描) ?;谖募淖帜笖?shù)字的存儲(chǔ)器,可以使用更長(zhǎng)的文件名 (zui多32字符) 和ID號(hào) (zui多20字符) 。網(wǎng)格文件可以通過(guò)增加行、列或改變?cè)隽糠较蜻M(jìn)行擴(kuò)展。26MG腐蝕測(cè)厚儀可以使用不同排列方式的雙晶片和單晶片探頭。探頭自動(dòng)識(shí)別功能,可對(duì)按線型排列的每個(gè)D790系列雙晶片探頭進(jìn)行識(shí)別,從而得到*測(cè)量結(jié)果。 26MG腐蝕測(cè)厚儀還可使用電磁超聲探頭E110-SB EMAT,透過(guò)氧化皮對(duì)鋼表面無(wú)耦合劑的厚度測(cè)量。M2017和M2091探頭于對(duì)鍋爐管道內(nèi)壁氧化沉積物的測(cè)量。26MG腐蝕測(cè)厚儀 與Panametrics-NDT的頻率范圍從2到30兆赫的Microscan探頭系列兼容,包括:?jiǎn)尉佑|式、延遲線式和水浸式探頭。此外,該測(cè)量?jī)x亦可用于非腐蝕材料諸如塑料、玻璃纖維、復(fù)合材料、橡膠、鑄件、橡膠和玻璃的測(cè)量應(yīng)用。應(yīng)用自動(dòng)調(diào)用功能,可從其存儲(chǔ)器中自動(dòng)調(diào)用16個(gè)缺省的和 10個(gè)Microscan探頭設(shè)置。
26MG腐蝕測(cè)厚儀這個(gè)創(chuàng)新技術(shù),利用單一的背反射回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。腐蝕測(cè)厚儀可以顯示金屬和涂層厚度,其中每一種都相應(yīng)調(diào)整材料聲速。 可將測(cè)厚儀設(shè)置為僅顯示金屬的實(shí)際厚度。測(cè)量無(wú)需去除表面的油漆或涂層。透過(guò)涂層測(cè)量使用新26MG腐蝕測(cè)厚儀和D7908雙晶片探頭。
腐蝕測(cè)厚儀主要表現(xiàn)為不銹鋼襯里表面均勻腐蝕,其特點(diǎn)是整個(gè)襯里表面均勻地失去光澤,變得粗糙而減薄,由于這種腐蝕是26MG腐蝕測(cè)厚儀整體均勻減薄,因此容器在設(shè)計(jì)制作中都保留了腐蝕量,生產(chǎn)中只要加強(qiáng)容器的維護(hù)和監(jiān)測(cè),就可以準(zhǔn)確的估計(jì)設(shè)備的使用壽命,就可以避免突然破壞事故發(fā)生。
26MG腐蝕測(cè)厚儀材料溫度的變化,引起聲波在其中傳播速度的變化,進(jìn)而影響測(cè)量的精度。溫度補(bǔ)償功能允許用戶(hù)輸入校準(zhǔn)塊的溫度值,并且手動(dòng)或自動(dòng)輸入測(cè)量點(diǎn)當(dāng)前(高)溫度。26MG腐蝕測(cè)厚儀將顯示在校正溫度下的厚度值,并將其存入內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器。改善的柵格視圖特點(diǎn)允許用戶(hù)對(duì)應(yīng)每個(gè)柵格點(diǎn)選擇查看zui小/zui大值、報(bào)警或者A掃描的標(biāo)記,26MG腐蝕測(cè)厚儀這允許用戶(hù)通過(guò)文件迅速掃描和找出zui小/zui大值、報(bào)警或者A掃描的位置。標(biāo)記清晰地表明(H)高值報(bào)警和(L) 低值報(bào)警的厚度測(cè)量值。